光伏組件EL測(cè)試，即電致發(fā)光（Electroluminescence，簡(jiǎn)稱(chēng)EL）測(cè)試，是一種非破壞性的檢測(cè)方法，用于評(píng)估光伏組件的質(zhì)量和性能。以下分別介紹其測(cè)試原理和成像原理：

一、光伏組件EL測(cè)試原理

EL測(cè)試原理主要基于光伏效應(yīng)和電致發(fā)光現(xiàn)象。

1. 光伏效應(yīng)：

• 是光伏組件能夠?qū)⒐饽苻D(zhuǎn)化為電能的基礎(chǔ)。當(dāng)光伏組件受到光照時(shí)，光子與組件內(nèi)部的硅材料相互作用，激發(fā)出電子-空穴對(duì)。這些電子-空穴對(duì)在電場(chǎng)的作用下分離，形成光生電流，從而實(shí)現(xiàn)光能向電能的轉(zhuǎn)換。

2. 電致發(fā)光現(xiàn)象：

• 是EL測(cè)試的核心原理。在光伏組件內(nèi)部，當(dāng)電子在回到價(jià)帶（即基態(tài)）的過(guò)程中，會(huì)釋放出能量，表現(xiàn)為光的發(fā)射，即電致發(fā)光現(xiàn)象。

• 在EL測(cè)試中，通過(guò)在光伏組件的兩端施加一定的電壓（正向電壓），可以激發(fā)出組件內(nèi)部的電子，使其發(fā)出可見(jiàn)光（或主要在近紅外區(qū)域發(fā)光）。這些光線(xiàn)的強(qiáng)度和分布可以反映出組件內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和性能。

具體來(lái)說(shuō)，EL測(cè)試過(guò)程包括以下步驟：

1. 電壓激發(fā)：向光伏組件施加正向電壓，注入非平衡載流子（即額外的電子和空穴）。

2. 載流子復(fù)合：非平衡載流子在組件內(nèi)部復(fù)合時(shí)釋放出能量，這些能量以光子的形式發(fā)射出來(lái)。

3. 光子探測(cè)：通過(guò)高靈敏度的光子探測(cè)器（如CCD相機(jī)或紅外相機(jī)）捕捉這些光子，并將其轉(zhuǎn)化為可視化的圖像。

二、光伏組件EL成像原理

EL成像原理主要基于光子探測(cè)器捕捉到的光子信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像的過(guò)程。

1. 光子信號(hào)捕捉：

• 在EL測(cè)試中，當(dāng)光伏組件內(nèi)部的電子在電場(chǎng)作用下發(fā)出光子時(shí)，這些光子被高靈敏度的光子探測(cè)器捕捉。

• 光子探測(cè)器通常具備對(duì)近紅外光的高敏感度，因?yàn)楣夥姵亟M件的電致發(fā)光主要在近紅外區(qū)域。

2. 信號(hào)轉(zhuǎn)化與圖像處理：

• 捕捉到的光子信號(hào)被轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，并進(jìn)一步轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像。

• 通過(guò)計(jì)算機(jī)處理這些圖像，可以直觀地觀察到光伏組件內(nèi)部的缺陷和故障。例如，圖像的均勻性可以反映組件內(nèi)部硅材料的均勻性，而圖像的亮度則可以反映組件的光電轉(zhuǎn)換效率。

3. 缺陷識(shí)別與定位：

• 在缺陷區(qū)域，由于非平衡載流子的濃度較低，釋放的光子較少，因此EL圖像較暗。

• 通過(guò)分析EL圖像的亮度和均勻性，可以識(shí)別出光伏組件內(nèi)部的隱裂、斷柵、虛焊、PID（電勢(shì)誘導(dǎo)衰減）、碎片、二極管短路、混檔等缺陷，并對(duì)其進(jìn)行定位。

綜上所述，光伏組件EL測(cè)試原理主要基于光伏效應(yīng)和電致發(fā)光現(xiàn)象，通過(guò)施加電壓激發(fā)組件內(nèi)部的電子并捕捉其發(fā)出的光子來(lái)評(píng)估組件的質(zhì)量和性能。而EL成像原理則主要基于光子探測(cè)器捕捉到的光子信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像的過(guò)程，通過(guò)計(jì)算機(jī)處理這些圖像來(lái)直觀地觀察到光伏組件內(nèi)部的缺陷和故障。